英国国家物理实验室(NPL)、塞瑞大学先进技术研究所、波罗尼亚大学(意大利)和谢菲尔德大学的科学家们在Advanced Science期刊上发表了一项研究成果，指出一种特殊的“无机-有机”半导体的设计规则。
与平面X射线探测器相比，弯曲X射线探测器具有减少图像失真和渐晕等优点，有望为各类领域带来彻底改变。该团队的研究确定了弯曲探测器开发中一个关键的缺失环节。NPL科研人员Filipe Richheimer、Sebastian Wood和Fernando Castro为这项工作做出了贡献，他们对这些X射线传感器设备中活性层的纳米级特性进行了校准测量。
他们使用扫描开尔文探针力显微镜(SKPM)测量表面功函数，这是理解电极电接触的关键，以确保传感器的高灵敏度。这项与塞瑞大学的合作与最近完成的一个“分析支持创新者(A4I)”项目一致，这个项目是与他们的分公司SulviRay合作完成的。SilverRay正在开发用于医疗和安全应用的高度灵敏、灵活的X射线传感器。NPL支持他们的技术升级，以用于大规模制造。
NPL目前正在开展相关后续工作，将此项目中开发的测量技术用来支持其他公司开发其他新兴电子材料和产品，包括红外传感器、太阳能电池和LED技术。
