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X射线检查与工业计算机断层扫描

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发布:2021-01-29 10:56:33     来源:日联科技

近年来,X射线断层扫描技术已成为无损检测材料性能的必不可少的手段。工业CT扫描可以轻松检示复合材料的材料结构。工业CT可以准确显示从整个光纤到单个光纤的每个样本。复合零件的每个结构与尺寸都可以通过一个CT数据集进行评估。在聚合物领域,CT技术在确定材料成分以及将微观结构与最终物理性能联系起来方面也具有特殊价值。

高分辨率采集的质量取决于几个参数,包括了解聚合物对X射线的敏感性,清晰的相衬度以及特定分析所需的分辨率参数的定义。高分辨率CT采集需要X射线源聚焦的高稳定性,但也需要样品的高稳定性。轻质材料对X射线敏感,并且在扫描过程中会变形。复合材料的高分辨率检查是无损显示纤维取向与分布的强大工具。在获得并重建样本之后,可以通过定义的灰度值来区分材料成分。


 

在层析成像过程中,需要考虑两件事:样本量与视野。两者之间同样密切影响。样本量在信号传输量中起着重要作用,从而会影响图像质量。样本越大,保持信噪比的扫描时间就越长。而视野取决于几何分辨率(或体素大小)。因此,当样本大于视野时(在高分辨率下),就只能在感兴趣区域(ROI)而不是整个样本上进行采集。

工业CT与普通的X射线检查不同。它通过连续获取2D断层图像来执行3D图像重建,因此它可以收集更多信息并具有更强的检测能力。它不仅可以检测缺陷的形状,位置和大小,而且可以结合密度分析技术确定缺陷的性质,从而长期以来一直困扰着缺陷空间定位和深度量化等综合定性问题。受无损检测人员困扰的解决方案更为直接。因此,国际无损检测界将工业CT视为最好的无损检测方法。

目前,工业CT由于其强大的测试功能,已经成为无损检测最重要的发展方向。购买测试设备时,公司不妨考虑其发展趋势。CT设备更加注重细节,图像的处理精度很高,包括运动精度和旋转精度。在可以执行3D合成之前,以每个角度拍摄的图像必须处于μ级。如果存在偏差,则在合成期间会发生错误。如果无法进行校准,则图像将非常模糊,并且可能会堵塞缺陷位置。这是CT设备的技术难点。

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